摘要(英) |
In the 21st high-tech industrial century, IC chip, assembly packages, are widely used in home appliances, communication, electronics and other related fields, the main advantage of chip is to make the application with more function and become user-friendly. As the increasing functions of electronic products, expandability of electrical characteristics, and thin and light feature that make chip production more and more precise. Therefore, how to maintain high quality product with a low cost is often a key to win in competitive market. Take quality excursion as an example, many companies still rely on the experience of supervisors or employees, instead of using systematic method to analyze and verify problems encountered, which make the problem keep occur.
In this study, the six-sigma methodology and DMAIC (an acronym for Define, Measure, Analyze, Improve and Control) improvement cycle were used to find the root causes of sputter process issue in bumping and Taguchi Methods also applied to advocate minimum number of experiments with maximum information about all the factors that affect the outcome. The method of the six-sigma system been implemented to improve the product resistance and to set parameter values of the Sputter process. The findings were validated and it showed the defect rate of product resistance was effectively improved. |
參考文獻 |
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