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    題名: 基於實飛資料分析小型輻射探測儀改良與 NAND Flash 記憶體輻射效應研究;Flight Data-Based Improvement of a Compact Radiation Probe and Radiation Effects on NAND Flash Memory
    作者: 周宜萱;CHOU, YIHSUAN
    貢獻者: 太空科學與工程學系
    關鍵詞: 深空輻射探測儀(DSRP);單事件效應(SEE);單粒子翻轉(SEU);NAND Flash 記憶體;小型輻射探測器(CRP);Deep Space Radiation Probe (DSRP);Single-Event Effects (SEE);Single-Event Upset (SEU);NAND Flash Memory;Compact Radiation Probe (CRP)
    日期: 2026-08-17
    上傳時間: 2026-10-20 15:03:04 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學
    摘要: 太空環境中的帶電粒子可能造成總游離劑量效應與單粒子效應,進而影響太空電子系統長期的可靠度。深太空輻射探測儀(DSRP)以 RADFET 以及商用現成 NAND 快閃記憶體(NAND Flash)作為主要感測元件,分別用於量測總游離劑量、劑量率與記憶體單粒子翻轉事件(SEU)。本研究目的為分析 DSRP 實飛資料中觀察之系統限制,並設計改良型「小型輻射探測儀(Compact Radiation Probe, CRP)」,以提升酬載長時間運作穩定性與 NAND Flash SEU偵測判讀能力。
    本研究以 NAND Flash 輻射效應相關文獻、DSRP 系統架構、飛行軟體流程與實飛遙測資料為基礎,分析酬載長時間運作異常與 NAND Flash SEU 偵測限制。根據上述分析結果,提出 CRP 改版設計方法,包含開機參數保護、錯誤計數器初始化、SEU 雙極性位元翻轉偵測,以及重讀比對分類機制。
    進一步透過地面長時間穩定性測試與高能質子照射實驗,初步驗證 CRP 之改版設計。測試結果顯示,CRP 可維持長時間資料輸出穩定性,並能分別記錄 NAND Flash擦除區與寫入區之位元翻轉行為。整體而言,本研究以 DSRP 實飛經驗為基礎,建立 CRP 系統穩健性改良與 SEU 分類機制,為後續立方衛星輻射監測任務與商用現成記憶體輻射效應分析提供設計參考。;Charged particles in the space environment can induce Total Ionizing Dose effects and Single Event Effects, affecting the long-term reliability of space electronic systems. The Deep Space Radiation Probe (DSRP) employed RADFETs and commercial-off-the-shelf NAND Flash memory to measure total ionizing dose, dose rate, and memory single-event upset (SEU) events. This study analyzes system limitations observed in DSRP flight data and develops an improved Compact Radiation Probe (CRP) to enhance long-duration payload stability and the interpretability of NAND Flash SEU detection.
    Based on NAND Flash radiation effect literature, DSRP system architecture, flight software processes, and flight telemetry data, this study identifies long-duration operational anomalies and the limitations in the original SEU detection method. The CRP design introduces boot parameter protection, error counter initialization, dual-polarity SEU bit-flip detection, and a re-read comparison mechanism for error classification.
    The improved design was preliminarily verified through long-duration ground stability testing and high-energy proton irradiation experiments. The results show that the CRP maintained stable long-duration data output and separately recorded bit-flip behavior in erased and programmed regions of NAND Flash memory. Overall, this study establishes system robustness improvements and an SEU classification mechanism for the CRP, providing a design reference for future CubeSat radiation monitoring missions and radiation effect analysis of commercial-off-the-shelf memory devices.
    顯示於類別:[太空科學研究所 ] 博碩士論文

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