English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 80990/80990 (100%)
造訪人次 : 42653449      線上人數 : 1259
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/2192


    題名: 厚度或折射率變異對窄帶通濾光片之可靠度分析;The analysis of reliability for narrow-band-pass filter as the layer thickness or/and material refractive index being statistical varied
    作者: 龔志偉;Chih-Wei Kung
    貢獻者: 機械工程研究所
    關鍵詞: 光學薄膜;可靠度;折射率;refractive index;reliability;optical thin film
    日期: 2002-07-04
    上傳時間: 2009-09-21 11:40:30 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 隨著高科技產業的發展,光學薄膜應用於日常生活中已是隨手可見,而對於其品質的要求也愈來愈高,從設計、鍍製到組裝成品,都應保有相當水準的品質,設計部分是屬於規格方面的問題,可以用理論使其趨於完善;而鍍製及組裝方面有涉及製造中人為主觀因素及環境客觀因素的影響,因此變異的存在是無法避免的,本文以可靠度的觀點從製程上的變異去分析一濾光片受到外界環境的影響,並試著探討其輸出特性的變化與各變異之間的關係。 本文的主要架構,以光學薄膜特徵矩陣配合蒙地卡羅模擬法,考慮在不同的變異、不同的膜層層數及不同的腔數下,濾光片的可靠度變化情形。 In this thesis the reliability of narrow-band-pass filter is investigated. Since during the coating process either or both of the layer thickness and material refractive index are considered to be statistical varied. In the study it is found that there exists as least a minimum numbers of layers above which the function of narrow-band-pass filter can be guaranteed. Such number of layers depends on the statistical variance of thickness or/and refractive index. However as the variance becomes large there may not exists such minimum layers.
    顯示於類別:[機械工程研究所] 博碩士論文

    文件中的檔案:

    檔案 大小格式瀏覽次數


    在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明