電源模組老化因子與加速試驗模型之研究

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題名:	電源模組老化因子與加速試驗模型之研究
作者:	蔡振洲;Chen-Chou Tsai
貢獻者:	機械工程研究所
關鍵詞:	老化;電源供應模組;飛彈;壽命評估;加速老化模型
日期:	2005-07-07
上傳時間:	2009-09-21 11:49:32 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學圖書館
摘要:	在飛彈例行的抽檢測試中，會發現部分電源模組之性能已偏離出廠時之容許值，因此本研究主要為1.瞭解飛彈電源模組於惰態儲存條件下之老化因子。2. 推估飛彈儲存30年之壽命之最低活化能。3.建立飛彈電源供應模組之加速老化模型。但由於一般飛彈部署服役的時間甚長，失效資料取得不易，因此必需在實驗室中執行加速老化試驗，以大幅縮短測試時間。實驗中可發現到，在經過90℃、95%RH、1260 hr之加速老化實驗後，模組板上之基板材料產生變異、電阻元件之銲點發生腐蝕現象，但穩壓元件之功能正常。經由穩壓元件之加速老化實驗時間可推論，當穩壓元件B元件之活化能大於0.497eV (Generalized Eyring模式)或0.647eV (Arrhenius模式)時，其惰態儲存壽命將大於30年。實驗結果僅穩壓元件A元件有四件失效。模組板及其餘三種元件皆未失效。和歷年抽測的失效資料有所出入，且抽測失效之該元件大多屬於同一批號，因此推測可能是該批元件在出廠時即已接近異常。本研究以推估之壽命值進行範例計算，可供未來計算實際加速老化模型參數及評估時之參考。
顯示於類別:	[機械工程研究所] 博碩士論文

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