English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 80990/80990 (100%)
造訪人次 : 43023833      線上人數 : 650
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/30794


    題名: Thickness and optical constants measurement of thin film growth with circular heterodyne interferometry
    作者: Hsu,CC;Lee,JY;Su,DC
    貢獻者: 機械工程研究所
    日期: 2005
    上傳時間: 2010-07-06 16:27:32 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: in this article, we report an alternative method for in situ monitoring of the thickness and refractive index of thin film during the growth process. We design a special structure with a thickness-controlled air film to simulate the process of thin film g
    關聯: THIN SOLID FILMS
    顯示於類別:[機械工程研究所] 期刊論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    index.html0KbHTML398檢視/開啟


    在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©  2006-2024  - 隱私權政策聲明