IEEE standard 1500 compatible oscillation ring test methodology for interconnect delay and crosstalk detection

NCU Institutional Repository > 資訊電機學院 > 電機工程研究所 > 期刊論文 > Item 987654321/32053

jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/32053

题名:	IEEE standard 1500 compatible oscillation ring test methodology for interconnect delay and crosstalk detection
作者:	Li,Katherine Shu-Min;Lee,Chung-Len;Su,Chauchin;Chen,Jwu E.
贡献者:	電機工程研究所
关键词:	FAULTS
日期:	2007
上传时间:	2010-07-06 18:17:30 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	A novel oscillation ring (OR) test scheme and architecture for testing interconnects in SOC is proposed and demonstrated. In addition to stuck-at and open faults, this scheme can also detect delay faults and crosstalk glitches, which are otherwise very di
關聯:	JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
显示于类别:	[電機工程研究所] 期刊論文

文件中的档案:

档案	描述	大小	格式	浏览次数
index.html		0Kb	HTML	393	检视/开启

在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

社群 sharing