Fault diagnosis for linear analog circuits

NCU Institutional Repository > 資訊電機學院 > 電機工程研究所 > 期刊論文 > Item 987654321/32601

請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/32601

題名:	Fault diagnosis for linear analog circuits
作者:	Lin,JW;Lee,CL;Su,CC;Chen,JE
貢獻者:	電機工程研究所
日期:	2001
上傳時間:	2010-07-06 18:33:37 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	This paper presents a novel scheme to diagnose single and double faults for linear analog circuits. The scheme first proposes a simple transformation procedure to transform the tested linear analog circuit into a discrete signal flow graph, then construct
關聯:	JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
顯示於類別:	[電機工程研究所] 期刊論文

文件中的檔案:

檔案	描述	大小	格式	瀏覽次數
index.html		0Kb	HTML	390	檢視/開啟

在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

社群 sharing