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    题名: Gd2O3/GaN metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
    作者: Johnson,JW;Luo,B;Ren,F;Gila,BP;Krishnamoorthy,W;Abernathy,CR;Pearton,SJ;Chyi,JI;Nee,TE;Lee,CM;Chuo,CC
    贡献者: 電機工程研究所
    关键词: GAN;DENSITY;HFETS;INTERFACES
    日期: 2000
    上传时间: 2010-07-06 18:35:37 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: Gd2O3 has been deposited epitaxially on GaN using elemental Gd and an electron cyclotron resonance oxygen plasma in a gas-source molecular beam epitaxy system. Cross-sectional transmission electron microscopy shows a high concentration of dislocations whi
    關聯: APPLIED PHYSICS LETTERS
    显示于类别:[電機工程研究所] 期刊論文

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