Impulse response fault model and fault extraction for functional level analog circuit diagnosis

NCU Institutional Repository > 資訊電機學院 > 電機工程研究所 > 期刊論文 > Item 987654321/32662

請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/32662

題名:	Impulse response fault model and fault extraction for functional level analog circuit diagnosis
作者:	Su,CC;Chen,YT;Chiang,SS
貢獻者:	電機工程研究所
關鍵詞:	INTEGRATED-CIRCUITS;CLASSIFICATION
日期:	2000
上傳時間:	2010-07-06 18:35:48 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	In this paper, a functional fault model for analog circuit diagnosis is proposed. A faulty circuit is modeled as a fault-free module in serial or in parallel with a fault module. To extract the faults, we adopt an iterative deconvolution technique to deco
關聯:	JOURNAL OF INFORMATION SCIENCE AND ENGINEERING
顯示於類別:	[電機工程研究所] 期刊論文

文件中的檔案:

檔案	描述	大小	格式	瀏覽次數
index.html		0Kb	HTML	492	檢視/開啟

在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

社群 sharing