Linear birefringence parameters determination of a multi-order wave plate via phase detection at large oblique incidence angles

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題名:	Linear birefringence parameters determination of a multi-order wave plate via phase detection at large oblique incidence angles
作者:	Tsai,Chien-Chung;Wei,Hsiang-Chun;Hsieh,Cheng-Hung;Wu,Jheng-Syong;Lin,Chu-En;Chou,Chien
貢獻者:	光電科學與工程學系
關鍵詞:	ELLIPTIC BIREFRINGENCE;OPTICAL-PARAMETERS;RETARDATION;AXIS;CRYSTAL
日期:	2008
上傳時間:	2010-07-07 14:06:41 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	In order to characterize the linear birefringence parameters (LBPs) of a multi-order wave plate (MWP) including ordinary refractive index n(o), extraordinary refractive index n(e) and the order number precisely, phase retardation measurement by means of l
關聯:	OPTICS COMMUNICATIONS
顯示於類別:	[光電科學與工程學系] 期刊論文

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