Determination of retardation parameters of multiple-order wave plate using a phase-sensitive heterodyne ellipsometer

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题名:	Determination of retardation parameters of multiple-order wave plate using a phase-sensitive heterodyne ellipsometer
作者:	Hsieh,Cheng-Hung;Tsai,Chien-Chung;Wei,Hsiang-Chun;Yu,Li-Ping;Wu,Jheng-Syong;Chou,Chien
贡献者:	光電科學與工程學系
关键词:	ELLIPTIC BIREFRINGENCE;OPTICAL-PARAMETERS;FILTER;AXIS
日期:	2007
上传时间:	2010-07-07 14:07:58 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	To characterize the linear birefringence of a multiple-order wave plate (MWP), an oblique incidence is one of the methods available. Multiple reflections in the MWP are produced, and oscillations in the phase retardation measurement versus the oblique inc
關聯:	APPLIED OPTICS
显示于类别:	[光電科學與工程學系] 期刊論文

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