非均勻薄壁效應在異質含水層之影響分析; Analysis of Non-uniform Skin Effect in a Heterogeneous Aquifer

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題名:	非均勻薄壁效應在異質含水層之影響分析;Analysis of Non-uniform Skin Effect in a Heterogeneous Aquifer
作者:	陳家洵
貢獻者:	應用地質研究所
關鍵詞:	非均勻薄壁;異質含水層;參數推估;水井水力學;地球科學類
日期:	2005-07-01
上傳時間:	2010-11-30 15:44:43 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	薄壁效應影響水文地質參數推估甚巨。傳統水井水力學假設薄壁層有均勻厚度及滲透性，但實際上鑽泥及地質碎屑會不均勻地滲入井邊地層造成非均勻薄壁。在前一計畫中，我們使用一隨深度z變化之薄壁函數Sk(z)代表非均勻薄壁效應，並用Gram-Schmidt方法求其水井水力學模式的洩降解。分析得知在均質情況下，非均勻薄壁對地下水流影響類似抽水井附近之〝局部異質性〞效應。在實際情況，含水層多為異質性。異質性本身即有效影響地下水流場，會將非均勻薄壁效應延伸至遠場，因而含水層洩降變化反映二者之複合效應。在此情況下，若不區分非均勻薄壁效應與異質性效應對洩降變化之影響，水文地質參數推估很容易導致錯誤的結果。如何區分異質性與非均勻薄壁對地下水流之影響，如何分析、瞭解異質性與非均勻薄壁對洩降變化的複合影響，如何建立有效之參數推估方法皆是亟待解決的問題。所以本計畫之研究目的是建立合適之模式及理論以瞭解、分析非均勻薄壁在異質含水層中對地下水流及水文地質參數推估之影響。擬以沉積作用形成之垂直異質性，K=K(z)，探討異質性影響並充分配合薄壁函數Sk(z)以發展合適之水井水力學模式及理論。研究期間：9308 ~ 9407
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[應用地質研究所] 研究計畫

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