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    題名: 彩色濾光片新製程與設備之研發---子計畫三:彩色濾光片製程參數控制與瑕疵檢測系統研發;The Study on Fabrication Parameter Control and Defect Inspection for Color Filter
    作者: 董必正
    貢獻者: 機械工程學系
    關鍵詞: 彩色濾光片;機器視覺;瑕疵檢測;機械工程類
    日期: 2008-07-01
    上傳時間: 2010-12-28 14:35:06 (UTC+8)
    出版者: 行政院國家科學委員會
    摘要: 由於彩色濾光片佔TFT-LCD 面板生產成本將近20%,因此成為各面板廠積極向上游整合的關鍵零組件之一。然而,目前在彩色濾光片的瑕疵檢測上仍多是倚賴人工進行處理,但整個檢測過程不僅單調且重複性高,易使檢測人員產生倦怠感,導致檢測效率不佳,加上其判斷準則多半取決於個人經驗,大幅降低檢測結果的一致性與可信度,使得彩色濾光片在市場上仍是呈現供不應求的情形。因此,為了提升彩色濾光片的檢測效率,並能確實檢測出不易為人眼所觀察到的微觀瑕疵,就必須導入機器視覺檢測技術,才能有效降低人事成本及人為誤差,提高檢測速率與確保品質的一致性,以滿足大量生產的需求。故本研究計畫的主要目的是發展機器視覺自動化瑕疵檢測系統,以期能正確檢測出彩色濾光片之瑕疵,接著分析各類型瑕疵產生的原因,進而即時調整智慧型供料系統的相關控制參數,並提供其他子計畫作為改善製程參數的依據,如此便可即時監控整個製程,避免短時間內產生大量相同類型的瑕疵品。 研究期間:9608 ~ 9707
    關聯: 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
    顯示於類別:[機械工程學系] 研究計畫

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