中大機構典藏-NCU Institutional Repository-提供博碩士論文、考古題、期刊論文、研究計畫等下載:Item 987654321/6854
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 80990/80990 (100%)
造访人次 : 42759947      在线人数 : 1001
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/6854


    题名: 193nm深紫外光氟化物混合膜之研究The;research of fluoride composite film in DUV at 193nm
    作者: 李金翰;Chin-Han Lee
    贡献者: 光電科學研究所
    关键词: 深紫外;氟化物混合膜;193nm;composite film;fluoride film;DUV;193nm
    日期: 2006-06-30
    上传时间: 2009-09-22 10:30:19 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 本文中主要研究探討波長 193nm 深紫外光之混合膜,混合材料為氟化鋁(AlF3)、氟化鎂(MgF2)。氟化鋁以熱阻舟蒸鍍(Resistive Heating Boat Evaporation)、氟化鎂以電子束蒸鍍(Electron Beam Gun Evaporation)的方式製鍍光學薄膜,並使用光譜儀、橢圓偏振儀、電子顯微鏡、原子力顯微鏡、X-Ray繞射和傅利葉紅外光譜儀來探討薄膜的光學特性、微觀結構,以找出較佳的混合膜製鍍參數。AlF3 and MgF2 are both popular low refraction index materials which are used for coatings in UV region. In the experiment, we deposited AlF3 and MgF2 simultaneously at various depositing rate to form mixed thin films. We then further study these films by Spectrometer, Ellipsometer, SEM, AFM, XRD and FTIR, trying to investigate the properties of the mixed films and find out the best composition.
    显示于类别:[光電科學研究所] 博碩士論文

    文件中的档案:

    档案 大小格式浏览次数


    在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明