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    題名: 碲硒化鋅磊晶層之光學特性研究
    作者: 施嘉宏;Jia-Hong Sh
    貢獻者: 物理研究所
    日期: 2001-07-12
    上傳時間: 2009-09-22 10:53:28 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 本篇論文利用光調制反射光譜實驗所得的實驗光譜,及理論公式擬合 出的理論光譜。分析碲硒化鋅合金(ZnSe1-xTex)在室溫下,能隙隨合 金濃度組成的變化有一大的彎曲參數,且能隙在合金濃度x=0.5-0.6 存在著極小值。光譜的寬化參數隨合金濃度組成的變化在x=0.18 有 著極大值。及光譜的強度隨合金濃度組成的變化在x=0.18 有著極小 值。再進而選取樣品的合金濃度分別為x £ 0.01、x =0.51、及x =0.93 三 塊樣品做變溫光調制反射光譜實驗。說明其能隙隨溫度升高會往低能 量偏移的現象。樣品x £ 0.01 及 x=0.93,光譜的寬化參數會隨溫度升 高而增大;但x=0.51 因晶格缺陷濃度較大,以致其光譜的寬化參數 受溫度的影響不大。在討論光譜強度時,當待測樣品的時間常數小於 外加交流調變的時間,則強度隨溫度的升高會降低,樣品x £ 0.01 及 x=0.93 即是;反之,待測樣品的時間常數大於外加交流調變的時間, 則強度隨溫度的升高會升高,樣品x=0.51 即是。
    顯示於類別:[物理研究所] 博碩士論文

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