近年來由於混合信號的量測的需求據增，再加上單晶系統(system on chip:SOC)技術快速發展，使得晶片的容量變大，因而使得測試相對變的較複雜，所需測試時間亦較長，因此我們便根據IEEE 1057的標準，提出各種不同的量測方法，使傳統的大型混合信號測試機台，可以有一個很好的量測技術方法可參考。 為了使量測不因取樣的關係，產生不應該有的錯誤，因此我們先提出取樣點的頻率與週期的決選方法，為了使IEEE 1057(IEEE Standard for Digitizing Waveform Recorders)的各種量測方法，能夠看出對類比數位轉換器(analog to digital converter:ADC)的明顯差異，因此我們提出了非理想類比數位轉換器的錯誤模型，接著利用建立起來的非理想類比數位轉換器模型，使用IEEE 1057各種不同方法，針對我們數位類比轉換器量測比較其非理想特性，與雜訊對我們實際量測的差異，最後為了方便使用者能夠很方便的更改類比數位轉換器的各種規格，進行觀察各種測試方法所得到的不同結果，因此我們以MATLAB建立起一個使用者介面，使我們能夠很輕易更改不同的類比數位轉換器規格，並迅速的顯示各種不同的量測結果。
