結合結構式基態耗乏之掃描式雙光子結構照明顯微術;Scanning Two-Photon Structured Illumination Microscopy Based on Structured Ground State Depletion

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题名:	結合結構式基態耗乏之掃描式雙光子結構照明顯微術;Scanning Two-Photon Structured Illumination Microscopy Based on Structured Ground State Depletion
作者:	陳思妤
贡献者:	國立中央大學光電科學與工程學系
关键词:	超解析度;結構照明顯微術;基態耗乏;雙光子螢光;光學切片;superresolution;structured illumination microscopy;ground state depletion;two-photon fluorescence;optical sectioning
日期:	2024-01-26
上传时间:	2024-09-18 14:17:46 (UTC+8)
出版者:	科技部
摘要:	現有之結構照明系統皆難免受到散射螢光訊號的影響而有所限制，本計畫首度提出能有效避免散射螢光訊號之架構，除了在學術上之重要性外，亦能提升結構照明系統在厚組織或活體內之解析度及穿透度，有助於在生醫研究上提供更多寶貴的資訊，若能進一步應用至臨床上，將能提升臨床診斷的準確性，對國人健康的提升亦能有所貢獻。
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
显示于类别:	[光電科學與工程學系] 研究計畫

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