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    題名: Determination of retardation parameters of multiple-order wave plate using a phase-sensitive heterodyne ellipsometer
    作者: Hsieh,Cheng-Hung;Tsai,Chien-Chung;Wei,Hsiang-Chun;Yu,Li-Ping;Wu,Jheng-Syong;Chou,Chien
    貢獻者: 光電科學與工程學系
    關鍵詞: ELLIPTIC BIREFRINGENCE;OPTICAL-PARAMETERS;FILTER;AXIS
    日期: 2007
    上傳時間: 2010-07-07 14:07:58 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: To characterize the linear birefringence of a multiple-order wave plate (MWP), an oblique incidence is one of the methods available. Multiple reflections in the MWP are produced, and oscillations in the phase retardation measurement versus the oblique inc
    關聯: APPLIED OPTICS
    顯示於類別:[光電科學與工程學系] 期刊論文

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