An energy-dependent photoemission study on line-shape analysis in determining the absolute coverage of metallic thin films

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题名:	An energy-dependent photoemission study on line-shape analysis in determining the absolute coverage of metallic thin films
作者:	Cheng,Cheng-Maw;Tsuei,Ku-Ding;Luh,Dah-An
贡献者:	物理研究所
关键词:	CROSS-SECTION;SURFACE-STATE;RESONANCES
日期:	2008
上传时间:	2010-07-08 13:18:59 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	Energy-dependent photoemission was measured to investigate the validity of the analysis of line shape in determining the absolute coverage of atomically flat, metallic thin films. The surface states of two Ag/Au(1 1 1) thin films with carefully controlled
關聯:	JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS????
显示于类别:	[物理研究所] 期刊論文

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